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探針臺制造商,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。

8英寸手動探針臺,射頻探針臺,高壓探針臺,MPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統(tǒng)可提供最大的EMI屏蔽，并允許進行低噪聲的器件在片測量，從而可廣泛用于各種應(yīng)用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片級可靠性，故障分析，設(shè)計驗證，和大功率。

高壓探針臺通過TS2000-DP，MPI提供了一個多功能且經(jīng)濟高效的探針臺，半自動|MPI 8英寸高壓探針臺適用于20°C至300°C溫度范圍內(nèi)的晶圓上高功率器件測量，測量能力高達3 kV（三軸）/ 10 kV（同軸）和600 A（脈沖）。

射頻探針臺,12英寸全自動射頻探針臺設(shè)計有五個單獨的托盤，可按人體工學(xué)方式手動裝載150、200或300毫米的“模型”晶圓。

全自動| FAB廠生產(chǎn)線常用探針臺采用新開發(fā)的專有XY驅(qū)動系統(tǒng)，實現(xiàn)了高速，低振動。

全自動探針臺,FAB廠生產(chǎn)線常用探針臺采用新開發(fā)的專有XY驅(qū)動系統(tǒng)，實現(xiàn)了高速，低振動。$n與現(xiàn)有產(chǎn)品相比，考慮到環(huán)境因設(shè)計變化而實現(xiàn)的占地面積小，功耗降低10％

高功率探針臺,半自動探針臺用于在寬 -60°C 至 +300°C 的溫度范圍和寬 3 kV （三軸） / 10 kV （同軸） 和 600 A 測量范圍的晶圓#HighPower 對高功率芯片特性進行測試。系統(tǒng)可以選擇在薄晶片或TAIKO晶圓上進行測試。半自動高功率探針臺|

閉循環(huán)低溫探針臺-