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11-4
一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號發(fā)生器，在調(diào)試硬件時，常常需要加入一些信號，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調(diào)試串口通信程序時，就要在計算機上寫好一段程序，再用線連接計算機和用戶實驗板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出，調(diào)試起來簡單快捷。二、設(shè)計原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...
10-17
探針臺溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實驗，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計不僅點針更準確，而且點針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點：1、可編程精密控溫?？瑟毩⒖刂?，也可從上位機軟件控制；2、探針需開蓋移動，樣品臺面電接地；3、探針，分別導通冷熱臺外殼上的4個BNC接口；4、杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性...
10-13
MPI探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。它主要的功能就是針對半導體元件進行檢測，這里面說的半導體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測試。通過探針臺配合測量儀器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測?？梢赃m用于對芯片進行科研分析，抽查檢測等；可以保證這些半導體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時間和器件...
10-8
一、頻譜分析儀是研究電信號頻譜結(jié)構(gòu)的儀器，用于信號失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真等信號參數(shù)的測量，可用以測量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù)，是一種多用途的電子測量儀器。二、工作原理是輸入信號經(jīng)衰減器直接外加到混波器，可調(diào)變的本地振蕩器經(jīng)與CRT同步的掃描產(chǎn)生器產(chǎn)生隨時間作線性變化的振蕩頻率，經(jīng)混波器與輸入信號混波降頻后的中頻信號(IF)再放大，濾波與檢波傳送到CRT的垂直方向板，因此在CRT的縱軸顯示信號振幅與頻率的對應關(guān)系。三、分類：(1)傳統(tǒng)的頻譜分析儀...
9-23
高低溫半自動探針臺是一種用于數(shù)學領(lǐng)域的分析儀器，為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。在不同測試環(huán)境、不同溫度條件下可對微結(jié)構(gòu)半導體器件、微電子器件及材料進行電學特性表征測試。可以對材料或器件進行電學特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量，廣泛應用于半導體工業(yè)（芯片、晶圓片、封裝器件）、MEMS、超導、電子學、物理學和材料學等領(lǐng)域。高低溫半自動探...
9-23
半導體測試設(shè)備是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的電子測量儀器，半導體制造是人類迄今為止掌握的工業(yè)技術(shù)難度Z高的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，是先進制造領(lǐng)域上的一顆鉆石。隨著半導體技術(shù)不斷發(fā)展，芯片線寬尺寸不斷減小，制造工序逐漸復雜。目前國際上7nm制程已進入產(chǎn)業(yè)化階段，需要近2000道工序，先進的制程和復雜的工序?qū)⒊掷m(xù)提升對于先進設(shè)備的需求。集成電路檢測根據(jù)工藝所處的環(huán)節(jié)可以分為設(shè)計驗證、前道量檢測和后道檢測。集成電路芯片的生產(chǎn)主要分為IC設(shè)計、IC前道制造和IC后道封裝測試三大環(huán)節(jié)，狹義上對集成電...
9-16
uf200探針臺是一種用于生物學領(lǐng)域的電子測量儀器，專為通用邏輯裝置而設(shè)計，支持對8英寸及8英寸以下晶圓進行自動測試，支持200um薄片的測試，測試溫度范圍從室溫到150度。它不僅繼承了UF200的基本概念，同時進一步采用了新技術(shù)的架構(gòu)。可以提供晶圓OCR自動識別，自動控制、與測試機聯(lián)動對8英寸及8英寸以下晶圓進行自動測試的篩選。一、產(chǎn)品特點：1、它可執(zhí)行5至8英寸晶圓的傳輸與針測。2、采用和UF2000相同的MMI。3、多種選擇，可達成所有非業(yè)界標準種類的晶圓針測。4、增加...
9-9
一、探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。二、特性：1、OTS-最近的位置對正系統(tǒng)(光學目標對準)OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術(shù)，來源于東京精密的度量技術(shù)。OTS實現(xiàn)了以自己為參照的光學對準系統(tǒng)。2、QPU-高剛性的硅片承載臺(四方型系統(tǒng))為了有效的達到接觸位置的精度，硅片承載臺各部分的剛性一致是非常重...