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在高頻集成電路（如5G射頻前端、毫米波雷達、功率放大器等）的研發(fā)與量產(chǎn)中，射頻探針臺作為連接被測器件（DUT）與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）的關(guān)鍵接口平臺，其測量精度直接決定器件建模、參數(shù)提取和良率判斷的可靠性。而校準是消除測試系統(tǒng)誤差、實現(xiàn)可溯源高精度S參數(shù)測量的核心環(huán)節(jié)?，F(xiàn)代射頻探針臺通常支持多種校準方式，用戶需根據(jù)頻率范圍、測試結(jié)構(gòu)、精度需求及自動化程度進行合理選擇。一、SOLT校準SOLT是經(jīng)典、應(yīng)用廣泛的二端口校準方法，適用于同軸連接或標準微帶線結(jié)構(gòu)。在探針臺場景中，需...
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國產(chǎn)探針臺作為一種精密測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導體、電子元器件等領(lǐng)域的測試與測量。然而，為了確保探針能夠精準接觸到被測樣品，初始調(diào)校與定位是至關(guān)重要的一步。本文將詳細介紹如何對國產(chǎn)探針臺進行調(diào)校與定位。1.準備工作在進行任何調(diào)校與定位之前，首先需要做好充分的準備工作：檢查設(shè)備狀態(tài)：確保探針臺已正確連接電源，并且沒有明顯的物理損壞。清理工作環(huán)境：保持測試環(huán)境的整潔，確保工作臺面沒有雜物，以防止外界干擾。準備必要工具：如螺絲刀、水平儀、顯微鏡等輔助工具，幫助完成調(diào)校過程。2.調(diào)校步...
10-24
高低溫探針臺使用時需要將待測試的樣品放置在的加熱和冷卻組件上，確保樣品處于合適的位置以便后續(xù)操作，啟動加熱系統(tǒng)，按照設(shè)定的程序?qū)悠芳訜岬剿璧母邷?；或者啟動制冷系統(tǒng)，使冷卻組件降溫至規(guī)定的低溫。溫度控制系統(tǒng)通常采用液氮或液氦制冷結(jié)合電加熱的方式，可實現(xiàn)較寬范圍的準確調(diào)控，如從4K至500K甚至更高的溫度區(qū)間。利用精密的探針定位系統(tǒng)，調(diào)整探針的位置，使其與樣品上的特定測試點(如芯片的焊盤等)實現(xiàn)微米級精度的可靠接觸。這樣，測量系統(tǒng)就能通過探針向樣品輸入電信號，并接收來自樣品的...
7-23
射頻探針是一種用于與射頻電路或器件進行物理接觸，以實現(xiàn)信號傳輸和測量的精密裝置。它通常由探針頭、傳輸線和連接器等部分組成。探針頭是與被測對象直接接觸的部分，其形狀和尺寸經(jīng)過精心設(shè)計，以確保良好的電氣接觸和信號干擾；傳輸線負責將探針頭采集到的射頻信號傳輸?shù)綔y試儀器；連接器則用于將射頻探針與測試儀器或其他設(shè)備連接起來，實現(xiàn)信號的穩(wěn)定傳輸。射頻探針的工作原理基于電磁場的相互作用。當探針頭與被測射頻電路或器件接觸時，會在接觸點處形成一個微小的電磁場耦合區(qū)域。在這個區(qū)域內(nèi)，射頻信號的電...
3-7
在半導體制造過程中，靜電放電（ESD）是一種潛在的風險，可能對晶圓、設(shè)備和人員安全造成嚴重影響。晶圓ESD測試機作為測試和驗證半導體器件的工具，必須采取有效的安全措施，以防止靜電傷害和設(shè)備損壞。本文將探討在晶圓ESD測試機操作中應(yīng)遵循的安全措施。一、靜電放電的危害靜電放電可能對晶圓表面產(chǎn)生破壞性影響，導致電路短路、損壞或性能不穩(wěn)定。此外，靜電放電不僅會影響產(chǎn)品質(zhì)量，還可能損壞敏感設(shè)備，造成生產(chǎn)停滯。因此，保護晶圓和設(shè)備免受靜電損害是操作過程中至關(guān)重要的一環(huán)。二、人員防護措施操...
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在半導體制造領(lǐng)域，確保器件的可靠性和性能至關(guān)重要。TLP傳輸線脈沖測試儀憑借其優(yōu)勢，成為半導體制造過程中的重要工具，在多個關(guān)鍵環(huán)節(jié)發(fā)揮著重要作用。在半導體芯片設(shè)計階段，TLP傳輸線脈沖測試儀助力優(yōu)化ESD（靜電放電）保護設(shè)計。ESD是半導體器件面臨的重大威脅，可能在瞬間造成器件永久性損壞。TLP測試儀通過產(chǎn)生精準模擬實際ESD事件的脈沖信號，施加到設(shè)計的芯片樣本上。工程師借助測試儀精確測量芯片在脈沖作用下的電流、電壓變化，深入分析ESD保護結(jié)構(gòu)的響應(yīng)特性。依據(jù)這些數(shù)據(jù)，能夠找...
12-5
在半導體行業(yè)飛速發(fā)展的今天，芯片設(shè)計越來越復雜，測試難度也隨之增加。高功率探針臺作為集成電路生產(chǎn)線上關(guān)鍵的一環(huán)，承擔著驗證產(chǎn)品電氣特性的重要任務(wù)。然而，“盲目探測”不僅浪費資源，還可能導致樣品損壞甚至測試失效。本文旨在分享有效策略，助您駕馭高功率探針臺，實現(xiàn)精準、高效的測試。一、理解您的需求首先，明確您的測試目標是什么。是需要高電流測試，還是高頻響應(yīng)？或是特定的電壓范圍？不同的芯片類型（如功率器件、射頻芯片等）有不同的測試需求。選擇合適配置的探針臺至關(guān)重要。二、精心挑選探針卡...
11-18
大功率探針臺是半導體、集成電路、光電器件測試領(lǐng)域中一種專門用于承載和測試大電流、高電壓器件的專業(yè)設(shè)備。它的設(shè)計目的是為了能夠在不破壞待測元件的情況下，對其進行精準的電氣特性測試，比如功率晶體管、LED、激光二極管等。大功率探針臺，在使用過程中確實存在一些安全隱患，特別是當涉及到高電壓、大電流的測試環(huán)境時，必須采取嚴格的預防措施以保障人身安全及設(shè)備完好。以下列舉了幾種常見隱患及其防范策略：一、高電壓風險防范措施：1.絕緣防護：穿戴絕緣手套、絕緣鞋，使用帶有絕緣層的工具。2.隔離...